国家知识产权局信息数据显现，浙江工业大学;嘉兴晶控电子有限公司请求一项名为“一种高精度晶振片动态频率丈量方法”的专利，公开号CN121231855A，请求日期为2025年9月。
专利摘要显现，一种高精度晶振片动态频率丈量方法，包含：1)在上位机上设置方针频率，经过串口与下位机中的单片机通讯，发送给下位机。2)获取被测晶片在交变电场中的信号。3)制造频率查找表。4)校准被测晶片信号。5)对校准后的电压信号进行AD转化，输出所述校准后的电压信号的编码至单片机，找出编码对应的频率，经过串口发送至上位机，显现测得的石英晶片频率。本发明能完成高精度低成本的频率丈量。
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